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XRD Subcategorías

DIFRACCIÓN DE RAYOS X (XRD)
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DETERMINAR LA ESTRUCTURA TRIDIMENSIONAL DE LA MATERIA. La difracción de rayos X (XRD) es una de las herramientas no destructivas más importantes para analizar todo tipo de materia, desde fluidos hasta polvos y cristales. Desde la investigación [...]

DIFRACCIÓN MONOCRISTALINA
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DIFRACCIÓN DE RAYOS X MONOCRISTALINO DETERMINAR LA ESTRUCTURA TRIDIMENSIONAL DE MOLÉCULAS. Cuando las sustancias químicas o biológicas cristalizan en monocristales, se puede utilizar la técnica de difracción de rayos X para determinar su tr [...]

SAXS
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DISPERSIÓN DE RAYOS X DE ÁNGULO PEQUEÑO (SAXS) INSPECCIONAR MATERIALES A NANOESCALA PARA DETERMINAR SU FORMA Y ESTRUCTURA. Unión Internacional de CristalografíaLa dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) es una técnica de dispersión de á [...]

XRD DE ALTA RESOLUCIÓN
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  TEXTURA / ESTRÉS DE EPI-CAPAS La difracción de rayos X de alta resolución se ha utilizado durante mucho tiempo en la industria de semiconductores compuestos para la caracterización de capas epitaxiales. Tradicionalmente se ha utilizado [...]

XRD DE ALTA TEMPERATURA
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DIFRACCIÓN DE RAYOS X A ALTA TEMPERATURA ESTUDIAR EL COMPORTAMIENTO DEL MATERIAL EN FUNCIÓN DE LA TEMPERATURA. La difracción de rayos X (XRD) en condiciones no ambientales se puede utilizar para una variedad de aplicaciones, incluido el estud [...]

XRD-DSC COMBINADO
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REALICE SIMULTÁNEAMENTE MEDICIONES XRD Y DSC Rigaku XRD-DSC puede realizar mediciones de calorimetría diferencial de barrido in situ en un difractómetro de rayos X. Estas medidas se pueden realizar simultáneamente. Esto permite a los investiga [...]

XRD Productos

XtaLAB mini II
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa  

XtaLAB Synergy-i
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UN DIFRACTÓMETRO MODERNO DE TAMAÑO COMPLETO PARA CRISTALOGRAFÍA QUÍMICA Un difractómetro de rayos X de cristal único construido con las últimas tecnologías para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas

NANOPIX mini
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INSTRUMENTO DE MESA DE DISPERSIÓN DE RAYOS X DE ÁNGULO PEQUEÑO (SAXS) Medición no destructiva del tamaño de partícula y la distribución del tamaño.

NANOPIX
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INSTRUMENTO DE DISPERSIÓN DE RAYOS X DE ÁNGULO PEQUEÑO Y GRAN ANGULAR SAXS / WAXS avanzados para análisis de nanoestructuras

HyPix-3000
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DETECTOR DE RAYOS X COMPACTO DE CONTEO DE FOTONES Detector de rayos X de semiconductores bidimensionales

AutoMATE II
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SISTEMA DE MEDICIÓN DE TENSIÓN RESIDUAL POR RAYOS X DE MICROÁREA Esfuerzo residual de microárea de alta precisión con métodos de inclinación lateral e isométrica

Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

SmartLab
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando

MiniFlex
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INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos