ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO

Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados

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Descripción

El modelo de alto rendimiento de tubo por debajo permite un análisis sin concesiones de muestras como líquidos, aleaciones y metales enchapados. El espectrómetro ZSX Primus IV𝒾 WDXRF, que proporciona un rendimiento superior con la flexibilidad para analizar las muestras más complejas, cuenta con una ventana de tubo Be de 30 micrones, la ventana de tubo estándar más delgada de la industria, para límites de detección de elementos de luz excepcionales (Z bajo).

Sistema de vacío (partición) para analizar líquidos

Debido a que la cámara del espectrómetro está siempre al vacío, el cambio de atmósfera de vacío a atmósfera de helio se completa en menos de dos minutos. Además, el consumo de gas helio se reduce significativamente en comparación con los modelos en los que también se debe purgar la cámara del espectrómetro.

Rendimiento mejorado

La mecánica mejorada minimiza el tiempo muerto del análisis. Por ejemplo, un tiempo de medición cuantitativa secuencial de 16 elementos mejoró de 348 segundos a 287 segundos, lo que representa un aumento del 18% en la eficiencia.

Análisis de alta velocidad D-MCA

El sistema Analizador digital multicanal (D-MCA) facilita el procesamiento digital de alta velocidad para altas tasas de recuento para una mayor precisión analítica y mayores velocidades de rendimiento.

El sistema óptico no se ve afectado fácilmente por las variaciones de altura de la superficie de la muestra

Una superficie de muestra irregular provoca variaciones en la distancia entre la muestra y el tubo de rayos X. Estas diferencias pueden provocar cambios en la intensidad de los rayos X. Los sistemas ópticos de Rigaku permiten la supresión de los cambios de intensidad de los rayos X causados por la variación en la distancia. Esto permite un análisis preciso al minimizar el impacto de las diferencias de forma de los moldes de fusión utilizados en la formulación de perlas de vidrio y el impacto de superficies de muestra irregulares durante el prensado de muestras de polvo.

Análisis de puntos / mapas

Equipado con una cámara de alta resolución que permite al usuario hacer zoom en pequeñas características para una correcta identificación y análisis. Permite un análisis preciso al eliminar las diferencias de sensibilidad causadas por la ubicación de la medición. El diseño superior utiliza el punto caliente del tubo para maximizar la intensidad / sensibilidad.

Análisis SQX refinado

El análisis SQX es un software de análisis FP sin estándares para el cálculo de la composición elemental precisa. Ahora es más fácil de usar que nunca.

Mecanismo de limpieza de alambre central automatizado

El cable central del detector F-PC se contamina gradualmente por el gas de enfriamiento del contador proporcional, que disminuye la resolución. El mecanismo de limpieza del cable central permite restaurar el rendimiento al eliminar la contaminación del cable central mediante calentamiento eléctrico, sin necesidad de apagar la fuente de alimentación o abrir el gabinete.

Características

Soporte de análisis y medición asistida: Guía ZSX: La configuración de análisis automatizada presenta un software de análisis SQX mejorado de tercera generación
Software de guía ZSX: La experiencia XRF incorporada maneja configuraciones sofisticadas. Los paquetes de aplicaciones disponibles permiten operaciones llave en mano.
Software intuitivo programable para el análisis diario utilizando bandejas de muestras: Configuración de ID de muestra para cada bandeja (facilita copiar y pegar para una configuración de medición eficiente).
Precisión mejorada del análisis de muestras líquidas: Corrección del efecto de geometría causado por la geometría de los vasos de muestra de líquido.
Mediciones de alta velocidad y alta precisión: La eficiencia de la nueva secuencia de transmisión reduce el tiempo de funcionamiento del instrumento
Funcionalidad única: La óptica de tubo debajo permite una funcionalidad conveniente, incluidas nuevas correcciones de película de muestra.

Además de las notas de aplicación que se enumeran a continuación , estos nuevos documentos están disponibles para su solicitud:

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