Cada elemento de la tabla periódica, en segundos, en una computadora de mano. El Z-300 logra lo que ningún otro analizador portátil ha logrado. Es un analizador portátil que mide todos los elementos de la tabla periódica de los elementos, desde H hasta U.
Descripción
El Z-300 usa el mismo láser que el Z-200, pero con un rango de espectrómetro extendido de 190 nm a 950 nm. El rango ampliado permite medir las líneas de emisión de los elementos H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs y S. Estas líneas no se pueden medir con el Z-200. El Z-300 también mide una línea más sensible para el litio para lograr límites de detección en el rango de 2-5 ppm. El Z-300 también mide una línea más sensible y libre de interferencias para el potasio (K).Las líneas de potasio más tradicionales tienen una fuerte interferencia de hierro, mientras que la línea utilizada por el Z-300 está libre de dicha interferencia. La Z se usa más ampliamente para la exploración de minerales, incluido el litio tanto en roca dura como en salmueras.
También se utiliza en las áreas de exploración forense, autenticación, arqueología, petróleo / gas debido a la amplia gama elemental. Como el Z-200 , el patrón de impacto del láser, los disparos de limpieza y la configuración del espectrómetro están todos bajo el control del usuario. El analizador incluye un software avanzado para modificar todos los ajustes, comparar datos espectrales y generar curvas de calibración cuantitativas.El Z-300 presenta el mismo sistema operativo Android y el mismo software intuitivo basado en aplicaciones que todos los demás modelos de SciAps.
Rango analítico
Espectrómetro / rango
190 nm – 950 nm
Mide todos los elementos de la tabla periódica
de H a U
Z-300 para GeoChem y suelos
El LIBS portátil Z-300 es una nueva tecnología de moda que llega a los sectores de minería y exploración. El Z ofrece dos características distintas que no están disponibles con los analizadores de rayos X portátiles establecidos. Primero, el Z analiza elementos que los rayos X no pueden, incluyendo litio (Li), berilio (Be), boro (B), carbono (C), flúor (F) y sodio (Na). El Z también realiza microanálisis en el campo, algo que no está disponible con ningún otro analizador. El rayo láser es de 100 um, y el Z puede rasterizar el láser en incrementos discretos en dos dimensiones. Esto permite el mapeo de calor de regiones en rocas.El Z también es generalmente mejor en concentraciones bajas de elementos o metales, incluidos Mg y Al, en comparación con HH XRF.
Muestras a granel y microanálisis
La Z es la única computadora de mano del mundo que ofrece microanálisis elemental en el campo. Los usuarios pueden configurar el ráster en un patrón de cuadrícula, utilizando el tamaño de punto de láser de precisión de 100 um para el mapeo de calor elemental punto por punto. Para muestras masivas, la Z se puede configurar para promediar resultados de cada ubicación de ráster para un resultado de muestra masiva, al igual que el análisis XRF portátil.
Un mapa de fluorescencia de rayos X (XFM) para Fe. El sistema LIBS portátil de SciAps ahora permite un microanálisis específico de muestras geológicas en el campo.
El mapa de distribución de elementos LIBS correspondientes para Fe muestra una excelente correlación con el mapa XFM.
Los 3 «imprescindibles» para los LIBS portátiles
Purga de argón
El Z es el ÚNICO LIBS portátil con una purga de argón integrada reemplazable por el usuario. Operar en un entorno de argón produce un aumento de señal de 10 veces o más, particularmente para las emisiones en la radiación ultravioleta profunda (190 nm 0 300 nm), donde se miden muchos elementos. En la figura se muestra dos espectros de acero inoxidable, con y sin argón, lo que demuestra el gran aumento de señal. También están disponibles recipientes más grandes montados en el cinturón (4 veces el volumen). Los usuarios también pueden conectar el Z a tanques de argón estacionarios estándar de la industria con nuestro paquete opcional de regulador de puente y tubería.
Tecnología láser de modo de limpieza: automatiza la preparación de muestras y ofrece perfiles de profundidad
El Z cuenta con un modo de limpieza novedoso para proporcionar una preparación de la superficie automatizada y configurable por el usuario según el tipo de aplicación. El modo de limpieza dispara disparos láser de 5-6 mJ / pulso a 50 Hz (50 disparos / segundo), por lo tanto, 5 disparos de limpieza cada 0,1 segundos. Los usuarios pueden elegir el número total de disparos de limpieza, después de lo cual el Z utilizará disparos subsiguientes para análisis y datos espectrales. Para las superficies metálicas que pueden estar sucias o contaminadas, la configuración estándar es de 10 disparos de limpieza, mientras que para las muestras de suelo, a menudo solo se utilizan unas pocas.La capacidad de disparo de limpieza también se puede usar para perfilar la profundidad, por ejemplo, para monitorear las concentraciones elementales como funciones de la profundidad en la muestra. El enfoque láser también está bajo control de software para que el análisis continúe en la profundidad del material.
Ejemplo de preparación de superficies por láser Z’s. Disparos repetidos, disparados a 50 Hz, queman el material de la superficie (indicador de calcio) permitiendo el análisis de la sustancia a granel subyacente.
Láser 2D rasterizado + Enfoque variable
Un gran número de publicaciones sugiere que la mejor precisión de LIBS se obtiene cuando el láser es rasterizado y los resultados se promedian en múltiples ubicaciones. La Z lleva el rasterizado un paso más allá para las computadoras de mano. Tiene una etapa XY integrada, además de un ajuste de enfoque en la dirección Z. Además del ráster configurado de fábrica para aplicaciones específicas (aleación, geoquímica, etc.), el usuario también puede configurar su propio patrón ráster. Un usuario puede hacer un escaneo de línea, o incluso un análisis de un solo punto en una inclusión o veta de material. El tamaño del punto láser es de aproximadamente 50 um de diámetro.El Z incluye una fibra de iluminación que, cuando se alinea con la trama, ilumina la ubicación donde se crea la voluntad de plasma. Con el enfoque variable controlado por software, un usuario puede obtener resultados analíticos en función del grosor de la muestra.
Peso
4 libras con batería
Dimensiones
8.25 «x 11.5″ x 4.5 »
Monitor
Pantalla táctil a color de 5 ″ tipo Smartphone – Gráfico 3D PowerVR SGX540
Visualización de muestra
Cámara / video a bordo para ver la muestra antes, durante el análisis, buscador de puntos láser para mostrar dónde golpea la muestra.
Enfoque automático
Etapa en dirección Z, controlada por computadora para ajustar manual o automáticamente la ubicación del enfoque láser en la muestra. Esencial para el análisis de líquidos.
Comunicaciones / Transferencia de datos
Wifi, Bluetooth, USB. Conectividad a la mayoría de los dispositivos, incluido el software para PC SciAps Profile Builder.
Aplicaciones disponibles
Aplicaciones de aleación, geoquímica (minería), empíricas y medioambientales. Se agregan nuevas aplicaciones con regularidad, consulte con la empresa o el sitio web.
Fuente de excitación
5-6 mJ / pulso, frecuencia de repetición de 50 Hz, fuente láser de 1064 nm
Procesamiento de electrónica
ARM Cortex -A9 de doble núcleo / 1,2 GHz Memoria: 1 GB de RAM DDR2, 1 GB de NAND
Adquisición de datos espectrales
Datos espectrales recopilados en operación no cerrada o con puerta, con retrasos de puerta configurables por el usuario
Operación / Purga de argón
Cartuchos de argón incorporados reemplazables por el usuario para operar en un entorno de purga de argón. Operación basada en aire opcional. El bote de argón proporciona aproximadamente 600 pruebas antes de reemplazarlo.
Ráster láser
Etapa XY a bordo para rasterizar láser en ubicaciones discretas para análisis específicos o promedios. Patrón de trama de hasta cuadrícula de 16 x 16, 256 ubicaciones.
Verificación de calibración
El obturador interno también es de acero inoxidable 316 para una calibración totalmente automatizada y una validación de la escala de longitud de onda.
Energía
Batería de iones de litio recargable a bordo, dispositivo interno recargable o con cargador externo, alimentación de CA.
Corrección de deriva
Solo es necesario para análisis de mayor precisión (purga de argón). Corrección de derivada automatizada utilizando materiales de referencia proporcionados por la fábrica o proporcionados por el usuario.
Almacenamiento de datos
Almacenamiento de resultados: 8 GB SD
Seguridad
Uso protegido por contraseña (nivel de usuario) y configuración interna (administrador).
Regulador
CE, RoHS, USFDA registrados. Láser de clase 3b. El sensor de muestra integrado permite el funcionamiento en condiciones de Clase 1, sujeto a la aprobación del LSO local. CE, RoHS, USFDA registrados.