Difractómetro de rayos X de sobremesa para análisis de fase
El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa, el MiniFlex de sexta generación, es un instrumento analítico de difracción por polvo multipropósito que puede determinar: la identificación y cuantificación de fase cristalina (ID de fase), porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación del cristalito, refinamiento de los parámetros de la red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en la ciencia de los materiales y química, así como en la industria para la investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie de analizadores MiniFlex de Rigaku, de difracción de rayos X de sobremesa, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.
Difracción de rayos X por polvo con detector HPAD
El sistema MiniFlex XRD ofrece velocidad y sensibilidad a través de innovadores avances tecnológicos, incluyendo el detector híbrido de píxeles de matriz (HPAD), el HyPix-400 MF 2D junto con una fuente de rayos X de 600 W disponible y un nuevo cambiador automático de muestras de 8 posiciones.
Detector híbrido de píxeles de matriz (HPAD)
Este nuevo detector de conteo directo de fotones permite la recolección de datos de alta velocidad, con bajo ruido y puede funcionar en modos 0D y 1D para el análisis XRD convencional y en modo 2D para muestras con tamaño de grano grueso y/u orientación preferida.
Los accesorios XRD mejoran su MiniFlex
Se ofrece una variedad de ánodos de tubos de rayos X, junto con una variedad de accesorios de posicionamiento y rotación de muestras, junto con una variedad de accesorios de temperatura, para garantizar que el sistema de difracción de rayos X MiniFlex (XRD) sea lo suficientemente versátil como para realizar tareas cualitativas desafiantes. y análisis cuantitativos de una amplia gama de muestras, ya sea que se realicen investigaciones o controles de calidad de rutina. El nuevo sistema de difractómetro de rayos X MiniFlex (Gen 6) encarna la filosofía de Rigaku de “Liderar con innovación” al ofrecer el sistema de sobremesa más avanzado del mundo para difractometría de polvo.
Software avanzado de difracción de polvo
Cada MiniFlex viene de serie con la última versión de SmartLab Studio-II, el paquete de análisis de difracción de polvo de función completa de Rigaku. La última versión ofrece nuevas funciones importantes; que incluye un método de parámetros fundamentales (FP) para un cálculo de picos más preciso, identificación de fase utilizando la Base de datos abierta de cristalografía (COD) y un asistente para el análisis de la estructura cristalina ab inito .
Historia del difractómetro de rayos X MiniFlex
El difractómetro de rayos X (XRD) Rigaku MiniFlex es históricamente significativo porque fue el primer instrumento comercial de difractometría de rayos X de sobremesa (de mesa o de escritorio). Cuando se presentó en 1973, el XRD de sobremesa Miniflex ™ original era aproximadamente una décima parte del tamaño y era mucho menos costoso que el equipo de difracción de rayos X (XRD) convencional de la época. El instrumento original (Gen 1), y su sucesor que se introdujo en 1976 (Gen 2), empleaba un goniómetro horizontal con salida de datos proporcionada por un registrador de gráfico de banda interno. El difractómetro de sobremesa de tercera generación (Gen 3), introducido en 1995, se llamó Miniflex +. Proporcionó un avance espectacular en la potencia de rayos X a 450 vatios (operando a 30 kV y 15 mA) y Windows ®Control informático de PC. Tanto el Miniflex + como las generaciones posteriores de difractómetros de mesa emplean un goniómetro vertical y permiten el uso de un cambiador automático de muestras. La XRD de sobremesa Miniflex II de cuarta generación (Gen 4) se introdujo en 2006 y ofreció el avance de una fuente de rayos X monocromática y un detector de tiras de silicio D / teX Ultra 1D. La XRD de escritorio MiniFlex600 de quinta generación (Gen 5), presentada en 2012, se basó en este legado con 600 W de potencia disponible y un nuevo software de difracción de polvo.
