ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF)
Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
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Descripción
SPECIFICATIONS
Nombre del producto | NEX DE |
Técnica | Fluorescencia de rayos X (XRF) |
Ventajas | Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas |
Tecnología | XRF (EDXRF) de dispersión de energía utilizando el detector SDD |
Atributos principales | 12 W, tubo de rayos X de 60 kV, detector SDD, analice de Na a U |
Opciones principales | Purga de He, vacío, automuestreador, girador (posición única), FP |
Computadora | PC externa, sistema operativo MS Windows®, software QuantEZ |
Dimensiones principales | 356 (ancho) x 260 (alto) x 351 (profundo) mm |
Cuerpo | Aprox. 27 kg (unidad central) |
Requerimientos de energía | 1Ø, 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A |
Características
- Analice de ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva.
- Potente software QuantEZ basado en Windows®.
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas.
- Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental.
- Detector FAST SDD® para estadísticas de conteo superiores.
- Múltiples filtros automáticos de tubo para una sensibilidad mejorada.
- Relación rendimiento / precio inigualable.
- Software opcional de parámetros fundamentales RPF-SQX.
- Software opcional de parámetros fundamentales sin estándar.