Un analizador elemental EDXRF de sobremesa puntual pequeño (variable) de alto rendimiento, el nuevo NEX DE VS ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ basado en Windows® fácil de aprender. Análisis de puntos pequeños, desde sodio (Na) hasta uranio (U), de casi cualquier matriz, desde sólidos, películas delgadas y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.
Análisis elemental XRF en campo, planta o laboratorio
Especialmente diseñado y diseñado para uso industrial pesado, ya sea en la planta o en entornos de campo remotos, el poder analítico superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE se suma a su amplio atractivo para una gama de aplicaciones en constante expansión, que incluyen exploración, investigación, inspección de RoHS a granel y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea que se necesite un control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de la calidad (QA) o el control de procesos estadísticos como Six Sigma, el NEX DE es la opción confiable de alto rendimiento para elementos elementales de rutina. análisis por XRF.
XRF con tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD
El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio FAST SDD ® refrigerado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución máxima del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), junto con una corriente de alta emisión y múltiples filtros de tubo de rayos X automatizados, proporciona una amplia gama de aplicaciones XRF, versatilidad y límites de detección bajos (LOD).
Opciones de XRF: inyector automático, vacío, helio y FP sin estándares
Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, centrifugadora de muestras y purga de helio o atmósfera de vacío para mejorar la sensibilidad del elemento de luz. * FAST SDD ® es una marca registrada de Amptek, Inc.
Características
- Analizar ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva
- Tamaños de punto de 1, 3 y 10 mm, seleccionables por software
- Imágenes de alta resolución para un posicionamiento preciso de la muestra
- Potente QuantEZ de Windows ® software basado
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas
- Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental
- Detector FAST SDD ® para estadísticas de conteo superiores
- Múltiples filtros de tubo automatizados para mejorar la sensibilidad
- Relación rendimiento-precio incomparable
- Software de parámetros fundamentales RPF-SQX opcional
- Software opcional de parámetros fundamentales sin estándares
